金融界2024年11月2日音讯，国家知识产权局信息数据显现，乐金显现光电科技（我国）有限公司请求一项名为“显现面板不良剖析办法、设备、电子设备和存储介质”的专利，公开号CN 118883586 A，请求日期为2024年7月。

　　专利摘要显现，本发明公开了一种显现面板不良剖析办法、设备、电子设备和存储介质，当检出显现面板存在不良像素的缺点时，确认不良像素的点坐标；获取不良像素在多个不同背光源下的多张外表扩大图画，根据外表扩大图画确认不良像素的外表反常要素，不良像素在多个不同背光源下能够呈现出不同的图画，不同背光源下的外表扩大图画能够更充沛、清楚地展现不良像素的浅表层的反常状况，则能大大的提高检测不良像素的外表反常要素的精确率；在查看不良像素的内部反常要素时，丈量不良像素的电阻值，作为检测阻值；根据检测阻值确认不良像素的内部反常要素，经过详细的像素自身的特点参数来检测不良像素的内部反常要素，能够更为精确地检测不良像素的内部反常要素。